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C1只是开始，传苹果已开始测试第二代iPhone基带
4 天前
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来源：凤凰网
预计它将慢于其他iPhone机型使用的最新高通骁龙X75基带芯片
iPhone 16e首发C1基带芯片
凤凰网科技讯 北京时间2月21日，据科技博客MacRumors报道，根据一位可靠爆料人士的消息，苹果公司已经开始为未来iPhone机型测试第二代C2基带芯片。苹果昨天刚刚发布了iPhone 16e手机，首款自研基带芯片C1备受关注。
MacRumors引用社交媒体X上一个经常分享准确消息的私人账号的爆料称，C2在苹果内部的产品标识符为C4020，这似乎确认该基带芯片已经存在。不过，爆料人没有提供进一步细节，并要求MacRumors不要提供其私人账号的链接。苹果在产品开发和测试过程中通常会为不同的硬件和组件分配特定的标识符，以便进行跟踪、管理和区分。
巧合的是，苹果芯片业务负责人乔尼·斯鲁吉(Johny Srouji)在接受采访时表示，C1只是“开始”，苹果将在每一代产品中不断改进这项技术，使其成为一个平台。
目前，C1基带芯片的速度测试还没出炉，但是预计它将慢于其他iPhone机型使用的最新高通骁龙X75基带芯片。(作者/箫雨)
