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华虹宏力“提升芯片良率和可靠性的方法”专利公布

2025-02-11

上海华虹宏力半导体制造有限公司的“提升芯片良率和可靠性的方法”专利已公布，申请公布号为CN119229936A，公布日期为2024年12月31日。该专利通过调整晶圆存储单元的阈值电压和编程电压，根据工艺差异微调编程条件，以提升芯片良率和可靠性。

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