中国科学院计算技术研究所处理器芯片全国重点实验室在集成电路设计自动化(EDA)领域的三项创新研究被EDA顶级会议DAC 2025接收。这三篇论文分别聚焦于时序电路多模态表征学习、时序电路故障仿真及自动测试向量生成。DAC 2025会议对全球投稿严格筛选,录用率仅23%,此次接收彰显了中国科学院在EDA技术方面的卓越研究实力。