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兆易创新“延时测试电路和探针结构”专利获授权
1 天前
兆易创新科技集团股份有限公司近日取得一项名为“延时测试电路和探针结构”的专利，授权公告号为CN222167160U，该专利的授权公告日为2024年12月13日，申请日期为2024年3月5日。该专利涉及半导体技术领域，能够检测两个测试支路输出的交流信号的相位和频率的差异。
